落下試驗(Drop Test)
落下試驗之目的通常為模擬兩種落下情況,一種為產品在運輸過程中,因裝載或搬運不慎,掉落地面時,所遭受之撞擊,此種掉落環境通常產品為包裝狀態(Package);另一種環境是針對手持型產品(Hand Held Product),在未包裝保護狀態下因使用不當而使產品掉落地面產生撞擊。
通常掉落高度大都根據產品重量以及可能掉落機率(drop probability)做為參考基準,但即便是相同重量的產品,不同的國際規範訂定的掉落高度亦不盡相同。對於手持型產品(如手機、MP3等)大多數掉落高度大都介於100cm ~ 150cm不等;IEC對於≦2kg之手持型產品建議應滿足100cm之掉落高度不可損壞;MIL則建議掉落高度為122cm;Intel對手持型產品(如手機)進行之調查則建議落下高度為150cm。
至於包裝運輸之掉落機率,美國於1979年即針對落下機率與產品重量之間的關係進行調查後,發現:
多數產品自「較低的高度」掉落機率大於「較高的高度」。
「集體式包裝」掉落次數與機率小於「單一包裝」。
多數包裝落下時,遭受撞擊的位置大多在底部的面(Face),且在運送過程中,底部遭受掉落碰撞的機率,幾乎為總掉落機率與次數的50%以上。也就是說,底部之緩衝保護為包裝設計的重要考慮因素。
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