落下試驗

落下試驗(Drop Test)

落下試驗之目的通常為模擬兩種落下情況，一種為產品在運輸過程中，因裝載或搬運不慎，掉落地面時，所遭受之撞擊，此種掉落環境通常產品為包裝狀態(Package)；另一種環境是針對手持型產品(Hand Held Product)，在未包裝保護狀態下因使用不當而使產品掉落地面產生撞擊。

通常掉落高度大都根據產品重量以及可能掉落機率(drop probability)做為參考基準，但即便是相同重量的產品，不同的國際規範訂定的掉落高度亦不盡相同。對於手持型產品(如手機、MP3等)大多數掉落高度大都介於100cm ~ 150cm不等；IEC對於≦2kg之手持型產品建議應滿足100cm之掉落高度不可損壞；MIL則建議掉落高度為122cm；Intel對手持型產品(如手機)進行之調查則建議落下高度為150cm。

 
至於包裝運輸之掉落機率，美國於1979年即針對落下機率與產品重量之間的關係進行調查後，發現：
    多數產品自「較低的高度」掉落機率大於「較高的高度」。
    「集體式包裝」掉落次數與機率小於「單一包裝」。
    多數包裝落下時，遭受撞擊的位置大多在底部的面(Face)，且在運送過程中，底部遭受掉落碰撞的機率，幾乎為總掉落機率與次數的50%以上。也就是說，底部之緩衝保護為包裝設計的重要考慮因素。