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落下試驗

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落下試驗(Drop Test)


落下試驗之目的通常為模擬兩種落下情況,一種為產品在運輸過程中因裝載或搬運不慎掉落地面時所遭受之撞擊,此種掉落環境通常產品為包裝狀態(Package);另一種環境是針對手持型產品(Hand Held Product),在未包裝保護狀態下因使用不當而使產品掉落地面產生撞擊。

通常掉落高度大都根據產品重量以及可能掉落機率(drop probability)做為參考基準,但即便是相同重量的產品,不同的國際規範訂定的掉落高度亦不盡相同。對於手持型產品(如手機、MP3等)大多數掉落高度大都介於100cm ~ 150cm不等;IEC對於≦2kg之手持型產品建議應滿足100cm之掉落高度不可損壞;MIL則建議掉落高度為122cm;Intel對手持型產品(如手機)進行之調查則建議落下高度為150cm。

 
至於包裝運輸之掉落機率,美國於1979年即針對落下機率與產品重量之間關係進行調查後發現:
    多數產品自「較低的高度」掉落機率大於「較高的高度」。
    「集體式包裝」掉落次數與機率小於「單一包裝」。
    多數包裝落下時,遭受撞擊的位置大多在底部的面(Face),且在運送過程中,底部遭受掉落碰撞的機率,幾乎為總掉落機率與次數的50%以上。也就是說,底部之緩衝保護為包裝設計的重要考慮因素。
 

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