落下實驗

落下試驗(Drop Test)

落下試驗之目的通常為類比兩種落下情況，一種為產品在運輸過程中因裝載或搬運不慎造成掉落地面所遭受之撞擊，此種掉落環境通常產品為包裝狀態(Package)，另一種環境系針對手持型產品(Hand Held Product)在未包裝保護狀態下因使用不當而使產品掉落地面產生撞擊。

通常掉落高度大都根據產品重量以及可能掉落機率(drop probability)做為參考基準，但對於不同國際規範即使產品在相同重量下但掉落高度亦不盡相同，對於手持型產品(如手機、MP3等)大多數掉落高度大都介於100cm ~ 150cm不等，IEC對於≦2kg之手持型產品建議應滿足100cm之掉落高度不可損壞，MIL則建議掉落高度為122cm，Intel對手持型產品(如手機)進行之調查則建議落下高度為150cm。
 
至於包裝運輸之掉落機率，美國於1979年即針對落下機率與產品重量之間關係進行調查發現：
    多數產品遭受由較低的高度掉落次數相當多，相對的由較高的高度掉落次數較少。
    集體式包裝較單一包裝掉落次數與機率較少。
    多數包裝遭受dropped大都是在底部面，同時調查也發現在運送過程中底部遭受掉落碰撞機率幾乎為總掉落機率與次數的50%以上，因此在包裝設計上底部之緩衝保護為重要考慮因素。