服務熱線+886(0)3 5795766
驗證分析product Center
您當前的位置: 首頁 > 驗證分析 > 設計驗證 > 高加速壽命試驗稽核與篩選

高加速壽命試驗稽核與篩選

聯繫窗口:林先生 | 分机:7320

E-mail :web_SRE@dekra-ist.com


產品詳情

高加速壽命試驗(Highly Accelerated Life Test-HALT/HASA/HASS)
加速應力試驗源由(Accelerated Stress Test:簡稱AST/ALT),源起於1960年代美國因應太空計畫對高可靠度的需求而被發展出來。隨著科技高度發展及快速變化的市場需求,過去耗時的產品驗證方式已逐漸無法應付如此快速變化的市場需求進而影響到產品於市場之競爭力,因此,如何快速且有效發現產品設計缺陷並於設計階段加以修正為現今國內外各大廠之主要關鍵問題,亦即是HALT&HASS逐漸被重視的原因。

眾所皆知,產品在設計階段進行缺陷修正是極為容易的,在大量生產後進行缺陷修正則困難度相對提高。微利時代若產品在市場於保固期內出現缺陷則所花費成本與商譽損失將無法計算。因此1990年代後以美國為首的國際各大廠(包括hp、Dell、Cisco、Nortel、Tetronix、 Motorola等)均相繼以HALT手法作為新產品開發階段迅速找出產品設計及製造的缺陷同時改善缺陷已達降低保固期成本、增加產品可靠度並縮短產品上市時間。同時可利用HALT所發現之失效模式與相關資做為後續研發產品的重要依據。目前有航空電子、汽車及資訊等高科技產業皆已投入HALT 領域之測試,並且已有相當成效。

高加速壽命試驗( Highly Accelerated Life Testing –簡稱HALT)
高加速壽命試驗,目的提升產品可靠性,試驗目的以產品FAIL為前提,激發出設計上的缺陷,改善產品的設計,通常是開發初期的產品來進行測試。
主要程式為以下幾個步驟:
溫度階梯試驗 (Thermal Step Stress Test)
溫度迴圈試驗 (Thermal Cycling Test)
振動階梯試驗 (Vibration Step Stress Test)

複合式應力試驗 (Combined Stress Test) 

 
高加速應力稽核與篩選(HASA/HASS )
高加速應力篩選HASS(Highly AcceleratedStress Screen) 產線上100%的檢測剔退不良的產品,找出infant failures 消除產線上製造的脆弱環結 但要先有做HALT找出條件,才能做HASS篩選產品

高加速應力稽核HASA(Highly AcceleratedStress Audit) 與HASS差別在非100%檢測,用抽測方式進行 一樣要先有做HALT找出條件,才能做HASA篩選產品 
 
  

HALT/HASS效益
   利用高加速環境應力可快速將產品潛在缺陷激發出來並於設計階段加以修正

   作為產品量產時之高加速應力篩選(HASS)及高加速應力稽核(HASA)規格制定之參考
   降低產品在市場之失效率及減少維修成本
   建立產品設計能力資料庫,以作為研發依據並可縮短設計開發時間


機台規格
   Temperature:-100℃ to +200℃
  
Temperature change rate:>50℃/minutes
  
Axes excited:3 Linear, 3 Rotational
  
Vibration frequency range: 10 Hz To 5 KHz
  
Vibration level:Up to 50 GRMS
  
Inside dimension: 136(W)*137(D)*91&139(H)/cm
  
Vibration table : 122(W)*122(D)/cm


返回列表
其它產品